新着トピックス

  • 2014.3.24
    ・トップページにて技術トピックス項目追加、特許情報の更新、技術・製品情報の更新
    ・製品紹介「検査装置」ページのリニューアルと「3D検査装置」ページを追加
    2013.4.22
    ・トップページにて特許情報の更新
    ・製品紹介「赤外線検査 事例」ページをリニューアル
    2012.7.2
    ・トップページにて特許情報の追加、技術・製品情報の更新
    ・製品紹介「めっき設備装置」ページを追加、「特殊めっき」と「検査装置」ページをリニューアル
    2012.3.22
    ・テレビ東京 カンブリア宮殿で放映されました
    2011.7.25
    ・ホームページをリニューアル

技術トピックス

  • 2014.3.24
    ・外観検査装置『EIT』:並列検査処理の開発により、検査時間の大幅短縮(当社比50%向上)
    ・3D検査装置『3DIT』:今までの高さ測定に加え、X・Y距離の精密寸法測定機能の追加

技術・製品情報

  • 2014.3.24
    ・2014.6.25~27 第18回機械要素技術展M-Techに外観検査装置『EIT』、赤外線検査装置『IRscope』、
      3D検査装置『3DIT』を出展
    2013.4.22
    ・2013.6.19~21 第17回機械要素技術展M-Techに3D検査装置『3DIT』を出展
    2012.1.18
    ・2012.1.18~20 第41回インタネプコンジャパン2012に外観検査装置を出展
    2011.8.1
    ・電解樹脂バリ浮かし装置、めっき装置の販売を開始
    2011.7.24
    ・2011.7.6~7 SIIQ半導体フェスタに赤外線検査装置、外観検査装置出展

取得特許情報

  • 2013.12.16
    ・特許番号:5443232 「欠陥検査装置」
    2013.6.21
    ・特許番号:5333817 「赤外線検出による被検体用台及びそれを用いた被検体欠陥部等の赤外線検査方法」
    2012.10.12
    ・特許番号:5103690 「はんだボールの半導体製品基板への接合状態検査方法及びその装置」
    2012.7.31
    ・特許番号:5068776 「ICリードフレームのリード検査方法及びその装置」
    2011.10.26
    ・特許番号:4863103 「はんだボール接合状態の非破壊検査方法」
    2010.6.15
    ・特許番号:4565252 「移動物品の欠陥部等の検出方法、画像処理プログラム並びにデータ処理装置」
    2008.9.30
    ・特許番号:4218037 「被検体欠陥部等の検出装置及びその検出方法」