検査分析機器

蛍光Ｘ線膜厚計（SFT9250）

特徴

薄膜ＦＰ法によりSn-Ag・Sn-Bi・Sn-Cu等、鉛フリーはんだめっきの膜厚と組成を同時測定します。

精度

±５％

仕　様
Ｘ線源 小型空冷Ｘ線管
フィルター 1次・2次自動切替
照射方式 上面垂直照射方式
装置校正 自動校正
試料観察 CCDカメラ固定倍率、ハロゲン照明
測定機能 自動測定、中心検索
補正機能 素材補正、既知試料補正、手入力補正